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AF9200C AF9000N

Xtra Hybrid Tester(メモリテストシステム)
ハイスピードと幅広いI/O仕様で既存のメモリテスト工程する次世代システム

AF8652

AF9200C

対象製品 ： Flash(NAND、トグルNAND等)、eMCP、DDR、LPDDR等

特徴 ： 100MHz(200Mbps)、384I/O、48Slot、DualDate Generator

Flexible Zone機能(オプション)、運転温度RT〜150℃

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AF8651

AF9200N

対象製品 ： Flash(NAND、トグルNAND等)、eMCP、DDR、LPDDR等

特徴 ： 100MHz(200Mbps)、384I/O、24Slot、DualDate Generator

Flexible Zone機能(オプション)、運転温度-10℃〜150℃