製品情報

・XHT

・MBT

・TBT

・WLBT

・LBT

・テストボード類

Monitoring Burn-In Tester
フラッシュテストファンクションが強化された高性能のパッケージバーン
インテストとしてハイスピード動作と幅広いテスト条件を提供するシステム

DM1200

DM1400C

対象製品： Flash(NAND、トグルNAND等)、eMCP、DDR、LPDDR等

特徴： 100MHz(200Mbps)、144I/O、48Slot、DualDate Generator、Flexible Zone機能(オプション)

運転温度RT～150℃

ディアイジャパン株式会社は世界市場の新しい価値創出のため、半導体装備部門の技術力向上に貢献致します。