半導体テストシステム

XHT

Xtra Hybrid Tester
テスト工程を代替出来る次世代メモリテストシステム(バーインテスト兼)

MBT

Monitoring Burn-In Tester
フラッシュメモリテスト機能が強化された高性能のパッケージバーインテスト

TBT

Test Burn-In Tester
多様なテスト条件と機能を実現するパッケージバーインテスト
(旧安藤電気のバーインテストの跡継ぎモデル)

WLBT

Wafer Level Burn-In Tester
ウェハレベルで初期不良を画期的に減少させるバーインシステム

LBT

Logic Burn-In Tester
精密・微細工程へ最適な環境を提供するロジックバーンインシステム

テストボード類

Burn-In Board、Hi-Fix、WMB等
メモリ・非メモリデバイス用のテストボード類

EMI Gasket

SMTガスケット・シールドガスケット等
小型機器のプリント基板上の自動実装対応