DL1100E

Enduranceテストを提供するMulti Zone/Chamberの高性能ロジックバーンインシステム

対象製品 ：Logicデバイス、SoC、CIS、LDI、SmartCard等

特徴 ： 10MHｚ、256I/O、RT〜150℃運転仕様、マルチパターンゾーン・

チャンバー(最大32パターン・4チャンバー対応)

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DL1100A

拡張されたチャンネル数とALPG機能追加で向上されたテスト環境を提供するロジックバーンインシステム

対象製品 ：MCU、LDI、CIS、SRAM、LEDドライバー、PDPドライバー、SoC、

SmartCard等

特徴 ： 10MHｚ、256I/O、高温・低温運転仕様・2TEMPゾーン、Slot別の個別電源

DL800F

高い洗浄度の条件を満たす精密・微細工程に最適な環境を提供するロジックバーンインシステム

対象製品 ：MCU、LDI、CIS、SRAM、LEDドライバー、PDPドライバー、SoC、

SmartCard等

特徴 ： 洗浄度レベルClass10対応、10MHｚ、高温運転仕様、

マルチパターンゾーン・チャンバー(最大32パターン・4チャンバー対応)

DL600

Number of Zone：12pattern zones/48Slots

Number of Channel：184I/O(160Common Driver,24I/O)

Device：Logic devices(Micro controllers,DDI,CIS,etc.)

Temperature Zone：2Chambers(Hot only)

DPS：4ch per BIB(800W,80A)

ALPG Option(SPI,NAND,DDR)

DL602A(C)

Number of Zone：8pattern zone/16 Slots

Number of Channel：184I/O

Device：Logic devices(Micro controllers,DDI,CIS,etc.)

-40℃ low temperature test available

DPS：4ch per BIB(800W,80A)

ALPG Option(SPI,NAND,DDR)

DP4100

LEDを多様な温度や電気の条件でテストすることによって、高い信頼性と初期不良の減少を果たす

バーンインシステム

対象製品 ：LEDデバイス等

特徴 ： Multiparallel構成(Max,1536DUT/1sys)、DUT別の温度モニタリング機能

LinuxFedora8仕様、2Chamber/1sys

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