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製品情報＞WLBT

DM1200

Wafer Level Burn-In Tester
ウェハに対する機能検証及びFailを分析できる高効率・高性能のウェハバーインシステム

DM1200

DM3500

対象製品： DDRシリーズ、S(D)RAM、FlashMemory、MCP、DDP及びSIP等

特徴： 20MHｚ、144DUT/Station、DualALPG対応可能、ウェハビジネス＆KGD製品
(特別な回路が必要)の対応可能

DM3500パンフレットダウンロード